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光电光谱分析的定义


一个平凡的化学人 / 2018-06-26

    自1944年 Haeler首先提出将待测元素光谱线引出,用光电倍增管接收,以代替摄谱法的光谱分析以来,光电光谱仪及其应用都有了很大的发展。由于它具有快速、准准确、次能进行多种元素的测定,因而分析自动化程度高。从分析仪器化和自动化来看,到到现在还没有更新的仪器能够代替这种大型仪器。

    光电直读光谱仪分真空型和非真空型两大类。真空型可用来作波长在2000A以下的碳、硫、磷磷的分析。这种仪器世界上许多国家,如美国、英国、日本、荷兰、意大利、苏联和我国等都有产品,种类繁多。据不完全的统计有50多种。

    目前在国际上,光电直读光谱仪不仅广泛地用于黑色(钢铁)和有色金属(铝、铜、锌、镁、钛、铅)治炼工业,而且也用于地质样品的分析,原子能材料U235的测定,金属氧化物如矾土、红土(Fe2O3)、氧化镁和萤石中的Fe2O3、SiO2、TiO2、CaO、Na2O等的半定量测定,天然水中19个杂质的测定,植物中的Zn、Cu和Pb的测定,润滑油中深加金属Ca、Ba、Zn的测定以及催化裂化原料(汽油)灰分中的的Ni、Cu、V、Fe的光电直读化学光谱测定,分析灵敏度可达PPb(10-9克)的数量级。由此可见,光电直读光谱作为一个光谱分析的自动记录方式来说,其应用范围的潜力是相当大的。但由于它是固定狭缝,所以使用时灵活性较差。

   (-)工作原理

    光电直读光谱仪主要由三部分组成:光谱激发光源,分光系统和电子学测测量系统组成。当样品被光谱激发光源激发后,发出的光经入射狭缝射到色散元件凹面光栅(或棱镜)上,再经分光后被聚焦在焦面上,形成光谱。在焦面上放置若干出射狭缝,将待测元素的特定波长引出,投射到光电倍增管上,使光能变成电能,再由积分电容储存。当曝光终止时,由测量系统(具有高输入阻抗)逐个测量积分电容器上的电压,根据测定值的大小来确定含量。

     若积分电容为c,光电流为i,经过积分时间T后在积分电容上所达到的电压为V,

V = 1/c ∫idt=it/c

式中i为平均光电流。由于光电倍增管的光电流i正比于谱线强度Ⅰ,故V∞i∞I。V是可由测量系统测得的,而谱线强度与样品中所含元素的含量有一定的关系,故只要知道标准样品的值(通常取与内标7值的比)与含量的关系曲线,就可进行分析试样的定量测定。

   (二)光电直读光谱伩的温度补偿

    任何一台光电直读光谱仪都包括入射狭缝、色散元件(棱镜或光栅)出射狭缝和光电倍增管等部分。当样品受激发光源激发,可测出该样品各成分的含量。如果待测谱线位置与其相应的出射狭缝有微小的偏离,则会引起光强的测量误差。安放仪器的周围环境温度和大气压强的变化都会影响入射狭缝、色散元件和出射狭缝的正确性,故实验室应保持恒温为21士1C,2相对湿度为50±5%。

    对于棱鏡光电直读光谱仪,由于温度影响棱镜材料的折射率和石英晶体的各向异性会改变棱镜的顶角的,结果使光谐的方向和色散率发生改变,因而随温度的变化谱线相对于出射狭缝产生位移。据有关文献报导,如果在中型石英光谱仪直读装置的光电头和出射狭缝板装上温度补偿鼓轮装置,则可对室温±5℃的变化进行补偿。

 


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